Wydziałowe Laboratorium Skaningowej Mikroskopii Elektronowej -- Aparatura.
1. Ultra-High Resolution Cold Field Emission UHR FE-SEM Hitachi SU 8010 equipped with EDS spectrometer and cryo-SEM system.
UHR FE-SEM Hitachi Su 8010. Ultra wysokorozdzielczy FE SEM z zimną emisją polową.
Parametry: napięcie robocze 0.1-30 kV, SE zdolność rozdzielcza 1nm (15 kV), próżnia w komorze próbki~10-4Pa, powiększenia 20-800.000X, w pełni zautomatyzowany 5-osiowy stolik próbki, detektory: SE (L), SE (U), BSE, TE, sygnały mieszane SE + BSE oraz HA-BSE i LA-BSE.
Dodatkowe urządzenia: spektrometr rentgenowski EDS (Thermo Scientific NORAN System 7) oraz system mrożący PP2000 "Cryo-SEM" (Quorum Technologies).
2. Skaningowy mikroskop elektronowy Tesla BS 340.
SEM Tesla BS 340. Parametry: tryb wysokiej próżni (HV), detektor elektronów wtórnych (SE), napięcie robocze: 5-30 kV, cyfrowy zapis obrazu (Mikrosystem SEM Framegrabber).
3. Urządzenia do suszenia w punkcie krytycznym Pelco CPD 2.
Punkt krytyczny Pelco CPD 2. Suszenie w punkcie krytycznym delikatnych, uwodnionych próbek biologicznych.
4. Napylarka próżniowa Pelco SC-6.
Napylarka próżniowa Pelco SC-6. Pokrywanie próbek nieprzewodzących warstwą złota technicznego, która redukuje niekorzystny efekt związany ze skondensowaną wiązką elektronów pierwotnych w próżni mikroskopowej.